Miter taċ-ċpar YYP122-100
Huwa ddisinjat għal folji tal-plastik, films, nuċċalijiet, panel LCD, touch screen u materjali oħra trasparenti u semi-trasparenti għall-kejl taċ-ċpar u t-trażmittanza. Il-miter taċ-ċpar tagħna m'għandux bżonn tisħin waqt it-test, u dan jiffranka l-ħin tal-klijent. L-istrument jikkonforma mal-ISO, ASTM, JIS, DIN u standards internazzjonali oħra biex jissodisfa r-rekwiżiti kollha tal-kejl tal-klijenti.
1). Jikkonforma mal-istandards internazzjonali ASTM D 1003, ISO 13468, ISO 14782, JIS K 7361 u JIS K 7136.
2). Tliet tipi ta' sorsi tad-dawl A, C u D65 għall-kejl taċ-ċpar u t-trażmittanza totali.
3Żona miftuħa għall-kejl, l-ebda limitu fuq id-daqs tal-kampjun.
4). L-istrument għandu skrin TFT ta' 5.0 pulzieri b'interfaċċja tajba bejn il-bniedem u l-kompjuter.
5Jista' jirrealizza kemm kejl orizzontali kif ukoll vertikali biex ikejjel tipi differenti ta' materjali.
6Jadotta sors tad-dawl LED li l-ħajja tiegħu tista' tilħaq l-10 snin.
7). M'hemmx bżonn li tagħmel tisħin, wara li l-istrument ikun ikkalibrat, jista' jintuża. U l-ħin tal-kejl huwa biss 3 sekondi.
8). Daqs żgħir u piż ħafif li jagħmilha ħafna aktar faċli biex iġġorr.
| Sors tad-Dawl | CIE-A, CIE-C, CIE-D65 |
| Standards | ASTM D1003/D1044, ISO13468/ISO14782, JIS K 7361/ JIS K 7136, GB/T 2410-08 |
| Parametri | Ċpar, Trażmittanza (T) |
| Rispons Spettrali | Funzjoni ta' Luminożità CIE Y/V (λ) |
| Ġeometrija | 0/jum |
| Żona tal-Kejl / Daqs tal-Apertura | 15mm/21mm |
| Firxa tal-Kejl | 0-100% |
| Riżoluzzjoni taċ-Ċpar | 0.01 |
| Ripetibbiltà taċ-Ċpar | ċpar <10, Ripetibbiltà ≤0.05; ċpar ≥10, Ripetibbiltà ≤0.1 |
| Daqs tal-Kampjun | Ħxuna ≤150mm |
| Memorja | Valur ta' 20000 |
| Interfaċċja | USB |
| Qawwa | DC24V |
| Temperatura tax-Xogħol | 10-40 ℃ (+50 – 104 °F) |
| Temperatura tal-Ħażna | 0-50℃ (+32 – 122 °F) |
| Daqs (T x W x H) | 310mm X 215mm X 540mm |
| Aċċessorju Standard | Softwer tal-PC (Haze QC) |
| Mhux obbligatorju | Fixtures, pjanċa standard taċ-ċpar, Apertura Magħmula apposta |
